友腾提供的WelabLIMS系统可以为我们记录检测过程中监控的数据,并且对其数据进行统计分析,通过计算平均值,极差,标准差等统计量,按照质量控制图的制作程序,确定中心线,上、下控制限,以及上、下辅助线和上、下警戒线,从而绘制出控制图。通过分析用控制图,判断测量过程处于稳定或控制状态后,就可以将分析用控制图转换为控制用控制图,并将日常测定的控制数据描点上去,判断是否存在系统变异或趋势。
单值(X)图:
X轴:系统生成的自动点位
Y轴:获取检测过程中监控数据
移动极差(R)图:
X轴:系统生成的自动点位
Y轴:获取检测过程中监控数据
通过分析质控图,可以获取到各种影响检测数据以及检测结果的因素,从而分析获取实验室的潜问题,使整个检测检验过程都可以做出针对性的预防措施,避免在是实验室评审过程中不符合项的出现,有效的提高实验室质量水平。
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